品質保証
C.C.P. Contact Probesのポゴピン、コンタクトプローブは、ISO認証各種はもちろん、国際的な製品規格に基づいて品質を管理しています。信頼性試験の機器も数多く保有しておりますので、ご要望の試験内容がありましたらお気軽にお申し付けください。
弊社の品質は1996年および2002年にBSI ISO9002、ISO9001を取得して以来、時代のニーズにあった認証を獲得しております。
| ISO 9001: 2015 | 品質マネジメントシステム |
|---|---|
| ISO 14001: 2015 | 環境マネジメントシステム |
| IATF 16949: 2016 | 自動車産業品質マネジメントシステム |
| QC 080000 |
有害物質プロセスマネジメント |
| ISO 13485: 2016 |
医療機器・体外診断用医薬品マネジメント |
弊社の6つの品質システムが緊密に連携し、お客様の基準を満たすことを誓います。
3種類の試験
A. 電気的性能試験
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B. 機械的性能試験
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C. 環境試験
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FA／信頼性試験の能力
自社内に30種以上の機械的検査装置・電気的検査装置を持ち合わせています。
| Test Items | Reference Document | Test Machine |
|---|---|---|
| A1. LLCR, Contract Resistance | EIA-364-23 | Mating/Unmating Force Tester |
| A2. Insulation Resistance | EIA-364-21 | . Insulation Resistance Tester |
| A3. Current Rating | EIA-364-70, Test method 1 | AC Source |
| Test Items | Reference Document | Test Machine |
|---|---|---|
| B1. Contact Retention | EIA-364-29, Test method B | Mating/Unmating Force Tester |
| B2. Durability | EIA-364-09 | Contact Resistance/Lifetime Tester |
| B3. Spring Force | EIA-364-04 (Normal Force Test Procedure) | Mating/Unmating Force Tester |
| B4. Random Vibration | EIA-364-28, Test condition II. | (Available upon request) |
| B5. Mechanical Shock | EIA-364-27, Test condition A | (Available upon request) |
| Test Items | Reference Document | Test Machine |
|---|---|---|
| C1. Humidity | EIA-364-31, Test method II, Condition A | Temperature & Humidity Chamber |
| C2. Salt Spray | EIA-364-26, Test condition B | salt Spray Tester |
| C3. Temperature Life | EIA-364-17, Test method A, condition 4, Test time condition A | Thermal Shock Tester |
| C4. Thermal Shock (Cycling) | EIA-364-32, Test condition VIII | Thermal Shock Tester |
| C5. Resistance to Solder Heat | EIA-364-56, Procedure 5, Level 2 | Hot-Air Reflow Machine |
信頼性試験
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参考規格 EIA-364-23 検査条件 検査電流：100mA
検査電圧：20mV判定基準 動作高にて最大50mΩ -
参考規格 EIA-364-21 検査条件 検査電圧を500VDCに設定しピンに接続 (単一ピンには適用不可能) 判定基準 1,000MΩ以上 -
参考規格 EIA-364-20、試験方法B 検査条件 検査電圧を500VAC、 60Hzに設定しピンに接続 (単一ピンには適用不可能)
検査電圧の印加は一定時間：60秒間判定基準 物理的ダメージがないこと。リーク電流は30mA以下であること。 -
参考規格 EIA-364-70, 試験方法1 検査条件 電流を1Ampに設定。テスト時間：1時間 判定基準 検査中、ピンの温度が室内温度を30℃以上超えないこと。 -
参考規格 EIA-364-09 検査条件 動作高にて1万回圧入。圧入頻度：500±50／時間(8~10rpm) 判定基準 物理的ダメージやゆがみがないこと。
B2の検査項目の完了後、製品にA1~A3の電気的試験を再度実施し、合格すること。 -
参考規格 EIA-364-04 (垂直抗力の試験手順) 検査条件 A1の接触抵抗検査と同様 判定基準 仕様書に適合していること。(動作高におけるスプリング力の項目) -
参考規格 EIA-364-29、試験方法B 判定基準 接触あたり最小0.5kgf -
参考規格 EIA-364-27、試験条件A 検査条件 正弦半波パルス、50G、11ms
各方向：3回。計6方向 (18回)判定基準 物理的ダメージやゆがみがないこと。
1µ secを超える不連続導通を生じないこと。 -
参考規格 EIA-364-28、試験条件 II 検査条件 10~500Hzの正弦波で走査振動
振動幅：1.52mm
最大パワー：10G
各方向に1時間、計3時間判定基準 物理的ダメージやゆがみがないこと。
1µ secを超える不連続導通を生じないこと。 -
参考規格 EIA-364-26、試験条件B 検査条件 塩水濃度：5%、塩水噴霧温度：35 °C、槽温度：47 °C
相対湿度：85%、試験時間：24時間、48時間、96時間 etc…判定基準 物理的ダメージやゆがみがなく、一連の試験に合格すること。
C2の検査項目の完了後、製品にA1~A3の電気的試験を再度実施し、合格すること。 -
参考規格 EIA-364-17、試験方法 A、条件 4、試験時間条件 A 検査条件 105±2°Cで96時間 判定基準 物理的ダメージやゆがみがなく、一連の試験に合格すること。
C3の検査項目の完了後、製品にA1~A3の電気的試験を再度実施し、合格すること。 -
参考規格 EIA-364-32、試験条件 VIII 検査条件 -40°C から+105°Cで5サイクル 判定基準 物理的ダメージやゆがみがなく、一連の試験に合格すること。
C4の検査項目の完了後、製品にA1~A3の電気的試験を再度実施し、合格すること。
試験後の接触抵抗が100mΩ以下であること。 -
参考規格 EIA-364-56、手順 5、レベル2 検査条件 半田面を265 ± 10°C/-0°Cの溶融半田に30~35秒間浸漬し、取り出す。 判定基準 拡大率10倍の顕微鏡で結果を観察。
表面の色に変化がなく、プラスチックにゆがみがないこと。 -
参考規格 該当なし 検査条件 パッケージ仕様書に基づいて製品を梱包。
「1角、3辺、6面」の順に従ってパッケージを落下。 各試験10回。落下試験の高さ： 60cm判定基準 外箱に破損なきこと。
内部パッケージにダメージなきこと。
箱内の製品位置にズレなきこと。
製品全数検査の後、不良なきこと。 -
参考規格 BENQの側面力基準を参照 検査条件 PCBへ半田付け、リフロー機を通過後、ピンが容易に取り外せないこと。 判定基準 側面の力は2kg以上であること。圧入速度：25mm/分 -
参考規格 EIA-364-52 検査条件 半田面を245 ± 5°Cの60/40 ± 5% 錫／鉛溶融半田に4 ~ 5秒間浸漬し、取り出す。 判定基準 拡大率10倍の顕微鏡による検査で、最低95%が覆われていること。 -
参考規格 IEC-60529/IPX7 検査条件 試料を治具に入れ空きスペースをグルー封止し、バケツに入れる。
深さ：1m、浸漬時間：30分判定基準 試験後、試料および治具内に水分の侵入なきこと。
試験装置
電気的性能試験機
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当試験機は、各スプリングピンの動作高におけるスプリング力および接触抵抗を測定・記録するものです。
機能 ・スプリング力試験
・接触抵抗試験 -
特定の範囲の電圧・電流においてポゴピンコネクタが正常に動作するかどうかを確認するための機械です。
機能 ・大電流試験 -
ポゴピンシリーズ全製品の寿命試験のための機械です。圧入中の接触抵抗の変化をモニターします。
機能 ・寿命試験
・接触抵抗試験 -
単ピン用の寿命試験機です。圧入中の接触抵抗の変化をモニターします。
機能 ・寿命試験
・接触抵抗試験
機械的性能試験機
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製品の長さ、幅、角度を測定します。
機能 ・外観検査 -
拡大、撮影、高精度の測定。製品の一部を拡大し、外観を検査、効果的な分析を提供します。
機能 ・外観検査 -
プランジャーのダメージ状況、スプリングの疲労などを含む、ポゴピンの耐久性を検査します。
機能 ・寿命試験 -
拡大、撮影、高精度の測定。製品の一部を拡大し、外観を検査、効果的な分析を提供します。
機能 ・外観検査 -
表面に傷をつけることなく、ポゴピンの内部を解析します。
機能 ・機械的検査 -
メッキ厚を測定し、お客様の要望に沿っているかどうか、データを確認します。
機能 ・メッキ厚検査 -
熱処理後の原材料や部品の硬度を測定します。硬度の規格準拠や、材料の耐摩耗性を確認します。
機能 ・硬度試験 -
成分の種類や含有量の測定に使用可能です(液体状や粉末状の成分をスライドに乗せて検査します)。有毒物質や有害物質の含有を検査します。
機能 ・ROHS適合検査 -
平面形状の粗さ測定に使用されます。
対物レンズ 1.5X, 2.5X, 5X, 10X, 20X, 50X で0.75X～100Xのズーム。 視野倍率 0.55X, 0.75X, 1X, 1.5X, 2X 測定アレイ 640 x 480, ノンインタレース、 任意の1392 x 1040カメラ 光源 長寿命緑色&白色LED 垂直解像度 <0.1nm RMS 再現性 0.05nm 機能 表面粗さ測定 -
1~25 ピン ／ サイクル、動的 ／ 静的検査方式
最大電流 30Amp 距離 40mm(電源供給もしくは熱電耦が必要) 機能 大電流検査 -
1~25 ピン ／ サイクル、動的 ／ 静的検査方式
最大電流 30Amp 距離 40mm(電源供給もしくは 熱電耦が必要) 機能 大電流検査 -
S-パラメータの抽出解析に使用します。
基本仕様 周波数範囲：300KHz~20GHz、
ダイナミックレンジ：123dB、
検査ポート：4ポート用途 S-パラメータの抽出 -
ポゴピン、コンタクトプローブの外観検査に用いられます。
接眼レンズ 10X 対物レンズ 5X、10X、20X、50X、100X ステージクリップ 150x60mm モード ライトモード／ダークモード 機能 外観検査 -
TDR/T測定に用いられます。
基本仕様 入射波立ち上がり時間：23ps
反射波立ち上がり時間：28ps
S-パラメータ帯域幅：20GHz用途 TDR/T 測定 -
5Gを始めとしたなどの高周波検査仕様のポゴピン、テストプローブに用いられます。
用途 高周波検査 -
大電流仕様のポゴピンやテストプローブに用いられます。
63102 基本仕様 電力：100W *2
電流：0~20A
電圧：1~80V
分解能：5mA
精度：0.1%63103 基本仕様 電力：300W
電流：0~60A
電圧：1~80V
分解能：15mA
精度：0.1%用途 大電流検査 -
ミディロガーは温度測定に用いられます。
基本仕様 アナログ入力：10CH
測定範囲：-200~2000℃
分解能：0.1℃用途 温度記録 -
用途 製品構成のストレスの解析
製品構成の接続力＆分離力の解析 -
定電力で幅広い電圧&電流の組み合わせを設定可能。
基本仕様 電圧範囲：0 ~ 100V
電流範囲：0 ~ 25A
電力範囲：600W用途 大電流検査
ソフトウェア
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用途 ・信号品質解析
・TDR または VNA データの変換
・アイダイアグラム解析
・モデリングにTDR/T または VNA S-パラメータデータを使用
・時間領域インピーダンス解析 -
用途 ・S-パラメータの解析
・EフィールドおよびHフィールドの解析
・電流密度の解析
・物質損失の解析
・放射損失の解析 -
用途 ・高周波回路の解析
・RLC等価回路のシミュレーション
システム
電気的測定システム
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電気的シミュレートシステム
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電気的テクニカルサポート
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年間 2000件以上の用途や仕様に合わせた柔軟な設計と製造を行っており、35年以上の国内外一流企業との取引実績多数あります。小ロットから大規模生産まで、柔軟に対応しております。まずは、どのようなポゴピン、ポゴピンコネクタが必要かお聞かせください！
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