メモリ検査用コンタクトプローブ

当社のメモリ検査用コンタクトプローブのご紹介ページです。一般的なフォーマットの全て(DDR、フラッシュ、eMCPなど)に対し検査ソリューションを提供するだけでなく、お客様の個々のニーズに応じてカスタム仕様の検査ソリューションを提供します。

メモリICは、ほぼすべての電気デバイスにおいて核となる部品です。メモリICは通常、揮発性メモリと不揮発性メモリに分類されます。不揮発性メモリは電源が切られても保存された情報を維持しますが、揮発性メモリはデータ保持のために絶えず電源供給を必要とします。ほとんどのメモリモジュール製品は、標準的な検査ピンで検査することができるよう、標準的なフォーマットになっています。本ページでは当社のメモリ検査用のソリューションをご紹介いたします。

設計コンセプト

材質

仕様

マニュアル型DDR2/3検査モジュール仕様

プローブの仕様

• DE4-050EF25-120

  

  材質

  バレル	PhBz、金メッキ
  スプリング	SWP、金メッキ
  下プランジャー	BeCu、金メッキ

  機械的仕様

  推奨ストローク	2.00mm
  最大ストローク	3.00mm
  スプリング力	20g±20%@2.00mm
  動作温度	-15℃～125℃

  電気的仕様

  1.52GHz>

  ピッチ	0.8mm
  ソケット素材	PEEK1,000
  定格電流	2A連続
  接触抵抗	<175mΩ(平均)
  特性インピーダンス	24.2Ω
  挿入損失	-1dB@>1.52GHz
  リターンロス	-20dB@0.28GHz
  遅延時間	72.6psec
  ループインダクタンス	1.76nH
  キャパシタンス	3pF

• DE4-056EF09-03F0

  

  材質

  バレル	BeCu、金メッキ
  スプリング	SUS、金メッキ
  下プランジャー	BeCu、金メッキ

  機械的仕様

  推奨ストローク	0.40mm
  最大ストローク	0.50mm
  スプリング力	30g±20%@0.40mm
  動作温度	-55℃～150℃

  電気的仕様

  20GHz> 5.11GHz>

  ピッチ	0.8mm
  ソケット素材	PEEK1,000
  定格電流	1A連続
  接触抵抗	<75mΩ(平均)
  特性インピーダンス	36.16Ω
  挿入損失	-1dB@>20GHz
  リターンロス	-20dB@>5.11GHz
  遅延時間	9.4psec
  ループインダクタンス	0.34nH
  キャパシタンス	0.26pF

• PE1-058EE40-01A0

  

  材質

  バレル	PhBz、金メッキ
  スプリング	SUS、金メッキ
  下プランジャー	BeCu、金メッキ

  機械的仕様

  推奨ストローク	0.80mm
  最大ストローク	1.1mm
  スプリング力	28g±20%@0.80mm
  動作温度	-55℃～150℃

  電気的仕様

  20GHz> 2.56GHz>

  ピッチ	0.8mm
  ソケット素材	PEEK1,000
  定格電流	1A連続
  接触抵抗	<75mΩ(平均)
  特性インピーダンス	41.2Ω
  挿入損失	-1dB@>20GHz
  リターンロス	-20dB@>2.56GHz
  遅延時間	32.2psec
  ループインダクタンス	1.33nH
  キャパシタンス	0.78pF

• DE4-035DH24-01A0

  

  材質

  バレル	PhBz、金メッキ
  スプリング	SWP、金メッキ
  下プランジャー	BeCu、金メッキ

  機械的仕様

  推奨ストローク	0.50mm
  最大ストローク	0.70mm
  スプリング力	27g±20%@0.50mm
  動作温度	-15℃～125℃

  電気的仕様

  20GHz> 4.5GHz>

  ピッチ	0.8mm
  ソケット素材	PEEK1,000
  定格電流	1A連続
  接触抵抗	<75mΩ(平均)
  特性インピーダンス	40.06Ω
  挿入損失	-1dB@>20GHz
  リターンロス	-20dB@>4.5GHz
  遅延時間	17.22psec
  ループインダクタンス	0.69nH
  キャパシタンス	0.43pF

その他の仕様

上記に記載の製品は、一部のみでございます。

お探しの製品がございましたら、当社営業までお気軽にお問い合わせをお願い致します。